ED400型渦流測(cè)厚儀

        是ED300型測(cè)厚儀的改進(jìn)型，儀器性能顯著提高。

        儀器適于測(cè)量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度，還可用于測(cè)量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度，測(cè)量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度。

        儀器適于在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)、銷售現(xiàn)場(chǎng)或施工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行快速、無(wú)損的膜厚檢查， 可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。      

      目前，已生產(chǎn)了ED200型、ED300型和ED400型三代產(chǎn)品， ED400型渦流測(cè)厚儀是我公司新一代產(chǎn)品，其產(chǎn)品質(zhì)量和測(cè)試精度達(dá)到國(guó)外儀器水平，其耐用性非常突出，超過國(guó)內(nèi)外儀器。天星測(cè)厚儀以良好的質(zhì)量，及時(shí)、優(yōu)質(zhì)、低費(fèi)用的售后服務(wù)得到用戶的廣泛贊譽(yù)和認(rèn)可，天星測(cè)厚儀在鋁型材行業(yè)的*超過90%，成為該行業(yè)的明星產(chǎn)品。

	量程寬 量程達(dá)到 0～500 μm。
精度高     測(cè)量精度達(dá)到2%。
	分辨率高               分辨率達(dá)到0.1μm。
校正簡(jiǎn)便                只校正“0”和“50 μm”兩點(diǎn)，即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計(jì)精度。
	基體導(dǎo)電率影響小 基體材料從純鋁變化到各種鋁合 金、紫銅、黃銅時(shí)，測(cè)量誤差不 大于1～2 μm。
可靠性提高          采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件，電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化，儀器可靠性提高。
	穩(wěn)定性提高  采用*的溫度補(bǔ)償技術(shù)，測(cè)量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)長(zhǎng)期使用。
探頭芯壽命長(zhǎng)         采用高強(qiáng)度磁芯材料，微調(diào)了探頭設(shè)計(jì)，探頭芯壽命可大大延長(zhǎng)。